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產(chǎn)品資料

高溫霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)

如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: 高溫霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào): JH60E
產(chǎn)品展商: 錦正茂儀器
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡(jiǎn)單介紹

高溫霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)試材料: 半導(dǎo)體材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和鐵氧體材料等 低阻抗材料：石墨烯、金屬、透明氧化物、弱磁性半導(dǎo)體材料、TMR 材料等 高阻抗材料：半絕緣的 GaAs, GaN, CdTe 等


高溫霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)  的詳細(xì)介紹

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