霍爾效應測試儀的構(gòu)成及使用

霍爾效應測試儀，是用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等重要參數(shù)，而這些參數(shù)是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性必*的工具。該儀器為性能穩(wěn)定、功能強大、性價比高的霍爾效應儀,在國內(nèi)高校、研究所及半導體業(yè)界擁有廣泛的用戶和知*度。儀器輕巧方便，易于攜帶，主要用于量測電子材料之重要特性參數(shù)，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，薄膜或固體材料均可。本儀器系統(tǒng)由：電磁鐵、高精度電源、高斯計、高精度恒流源、高精度電壓表、霍爾探頭、電纜、標準樣品、樣品安裝架、系統(tǒng)軟件等構(gòu)成。  霍爾效應測試儀的構(gòu)成及使用

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樣品測試：

設置控制電流、磁場和霍爾片厚度，點擊“開始測試”按鈕，軟件將完成一鍵測試過程，直至計算出所有霍爾參數(shù)。每次測試完后，可選擇保存該計算結(jié)果值，然后點擊“**顯示”按鈕，以進入下一次測試。  霍爾效應測試儀的構(gòu)成及使用

若保持磁場大小不變，改變控制電流的大小，可通過畫圖操作觀察Is 與 VH的關系；若保持控制電流大小不變，改變磁場的大小，可通過畫圖觀察 B 與 VH 的關系。  霍爾效應測試儀的構(gòu)成及使用

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